OLED光譜分析系統用于測量OLED、鈣鈦礦LED及其其他發光器件的發射光譜特性和極化角，同事也可測量器件的s和p偏振光譜、發射光譜與角度的關系，計算出發射層中激子的發光角度及位置分布。
OLED光譜分析系統主要測試功能：
1、OLED效率測量/外量子效率EQE測量，流明效率Lm/W 和 發光效率Cd/A；
2、發射角度測量；
3、光譜&顏色測量@發射角；
4、CIE xyY測量；
5、視角測量；
6、IVL(電流—電壓—亮度)測量；
7、PL光致發光測量功能（有機、量子點、鈣鈦礦薄膜發射光譜和極化角度）；
8、EL電致發光測量功能（OLED\鈣鈦礦LED和其他發光器件）；
9、極化測量；
10、發射角對應的光譜和顏色；
11、可與Setfos組合，隨發射層進行分析；
12、擬合發光器件的發射區、分子取向和發光方向。
